四探针电阻仪
面向学科
电子、半导体、金属等；
适用领域
适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试，特别适用于要求快速测量中低电阻率的场合
检测领域
用于测量物质的电阻等
样品要求
1) 粉体样品提供3-5g，压片测试，至少保证压实后体积不小于1cm3；
2) 薄膜样品，提供准确膜厚，厚度均匀；
3) 块体样品，上下平行，最好抛光处理；厚度务必在 50μm至3mm之间，不得超过3mm，长宽最佳尺寸：10mm×10mm以上；
4) 特别注意：电阻率测试范围是10-5-105 Ω·cm；
收费标准
150元/样
仪器设备
分析仪器：ST 2253/ST 2722 型数字式四探针测试仪
标签：四探针电阻仪、四探针、电阻仪、电阻
仪器简介：ST 2253/ST 2722 型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置，它可以测量半导体材料的电阻率，测量扩散层的薄层电阻（亦称方阻）。换上特制的四探针测试夹具，还可以对金属导体的低、中值电阻进行测量。
