场发射电子探针
适用领域
1) 金属材料的相分析、成分分析和夹杂物形态成分鉴定。
2) 金银饰品、宝石首饰的鉴别，考古和文物鉴定，以及刑侦鉴定等领域。
3) 高分子、陶瓷、混凝土、生物、矿物、纤维等无机或有机固体材料分析。
4) 可对固体材料的表面涂层、镀层进行分析，如：金属化膜表面镀层的检测。
5) 进行材料表面微区成分的定性和定量分析，在材料表面做元素的面、线、点分布分析。
面向学科
化学、化工、高分子、材料、金属、材料、地质等
样品要求
1) 样品要求：粉末、薄膜、块体均可。粉末10mg，块体样品高度小于15mm、长宽小于25mm
2) 特别注意：样品上下表面平行，测试面务必抛光；不导电样品需要喷金或喷碳；最好标记好分析面上的测试点，未标记测试位置，测试时只选有代表性、较平整位置测试；
收费标准
1) WDS(波谱面分析)：4个元素以内800/样，4个元素以上200元/元素，分辨率512*384；
2) WDS(波谱线分析)：4个元素以内400/样，4个元素以上100元/元素；
3) WDS(波谱定量点)：4个元素以内，三个相(最多5点实验结果)以内每个样品800元，4个元素以上150元/元素；
4) 微量元素和超轻元素在正常价格上增加150元/元素
5) 喷金/喷碳制样：300元/次
测试仪器
仪器名称：场发射电子探针
仪器型号：JXA-8530F Plus
仪器厂家：日本电子
关键字：波谱面分析、波谱线分析、波谱定量点、EPMA、场发射、电子探针 
仪器简要：日本电子推出了世界首台商业化场发射电子探针（FE-EPMA），最新研发的第三代场发射电子探针JXA-8530F Plus，电子光学系统有了很大的改进，新的软件能提供更高的通量，并保持着极高的稳定性，能实现更广泛的EPMA应用,JXA-8530F Plus采用浸没式肖特基场发射电子枪,优化了角电流密度，能利用2 μA以上的大探针电流进行分析，还提高了分析条件下的二次电子像的分辨率。
仪器参数
1) 元素分析范围(WDS)：: Be to U
2) X射线范围(WDS谱)：0.087-9.3nm
3) X射线光谱仪数量(WDS)：5
4) 样品最大尺寸： 100mm*100mm*50mm(H)
5) 加速电压： 1-30Kv(每次0.1Kv)
6) 探针电流稳定性： ±0.3%/h(10kV，50nA)
7) 二次电子图像分辨率： 3 nm at WD 11 mm, 30 kV
20 nm at 10 kV, 10 nA, WD 11 mm
50 nm at 10 kV, 100 nA, WD 11 mm
8) 放大倍数： ×40 to ×300,000 (WD 11 mm)
9) 扫描图像像素分辨率：最高 5,120×3,840
