测试简介
掠入射小角 X 射线散射 (GISAXS) 应用于含有尺寸范围为 1 – 100 nm 的纳米颗粒、毛孔和其他非均质性的薄表层。 GISAXS 用于获取有关这些纳米级特征的大小、形状和对齐的信息。 SAXS（小角 X 射线散射）应用于液体或粉末形式的纳米材料，而 GISAXS 应用于平基片上的表层。 GISAXS 用于显示横向尺寸和排列。
样品要求
1) 粉末样品最好提供10mg以上，无明显颗粒感
2) 液体样品浓度要求10mg/mL，体积2mL以上，无沉淀，需提供背景样品
3) 普通saxs膜样：10*5mm，膜厚越接近1mm越好，纤维样品梳理整齐，尽量保持伸直状态
4) 金属类块体样品越薄越好，一般厚度80um以下
5) 水凝胶样品的要求，如果样品可成形，尺寸需为1*1cm大小，1mm厚；如果不成形，需2mL
6) GI-SAXS或GI-WAXS的样品一般都是做在硅片（比FTO玻璃反射效果好）上，厚度在200nm左右，大于1微米会影响信号。尺寸1x1cm大小（超过的事先说明）
收费标准
1) 二维SAXS(固体样品)：500元/样
2) 二维SAXS(溶液样品)：700元/样
3) 二维GI-SAXS(固体样品，5个样品起测)：600元/样
4) 二维GI-WAXS(溶液样品，5个样品起测)：800元/样
分析仪器
仪器名称：小角X射线散射仪SAXS
仪器型号： NanoSTAR
仪器厂家：德国Bruker-AXS公司
NANOSTAR具有无与伦比的模块化特性，它是通过小角X射线散射（SAXS）、掠入小角X射线散射（GI-SAXS）、广角X射线散射（WAXS）以及Nanography，对纳米结构以及纳米结构表面进行表征的理想工具。支持镜面调节的针孔准直系统提供了一种高强度和具有低寄生散射的平行线束，且保持了理想的圆形光束形状。超大（XL）样品室可容纳各种专用样品台和第三方样品台，以便您在任何条件下对多种类型的样品进行测量。最后，您将能通过大型、低背景、高度灵敏的2D探测器，收集各向同性和各向异性样品的散射信号。
仪器技术参数
1) VÅNTEC-5002D探测器
活动区域大，背景低，高灵敏度2D探测器
较大的有效区域（直径14 cm厘米），用于拍摄全视角SAXS / WAXS散射图像
极低的背景，因此极为灵敏
出色的空间分辨率（68微米像素）
免维护（无需水/空气，或对强主光束或探测器在偏压下的移动敏感）
2) XL 样品室
内部尺寸：287mm x 501mm x 380mm（宽x高x深）
使用法兰连接其他电源
X-Y样品台，平移80mm x 130mm
电动参考样品轮
可在真空、空气或惰性气体下运作
