X射线粉末衍射仪测试
样例
适用领域
1.材料晶体大小的测定期模拟计算。
2.半导体基底上薄膜生长的纳米材料分析。
3.纳米材料中的物相定性分析。
4.纳米氧化锌陶瓷的参杂制备及物相分析、结构表征、性能和结构分析等。
5.单相和多相的全谱拟合计算和结构精修
面向学科
该仪器在化学、物理、材料、生物及矿物学等学科均有广泛应用。
样品要求
可接收粉末、块体和薄膜测试，具体要求如下：
1) 粉末：过200目筛，样品量不少于0.5g；极少量样品可选无背景样品台；
2) 块体：被测面平整且尽量光滑，确保样品能装入φ25mm×3mm的样品槽，若样品尺寸更大，具请咨询我们；
3) 薄膜：若采用反射模式，尺寸要求同块体；若选用透射模式，要求样品有一定的柔韧性，具请咨询我们；
4) 液体及胶体样品：无法检测；
收费标准
1) 广角X射线衍射（5°-90°）：
扫描速度10°/Min: 50元/样
扫描速度5°/Min：70元/样
扫描速度2°/Min：100元/样
扫描速度1°/Min：200元/样
2) 小角X射线衍射（0.5°-5°）：
扫描速度1°/Min：100元/样
扫描速度0.5°/Min：150元/样
3) XRD钴靶
15Min：200元/样
30Min：400元/样
1H ：600元/样
测试仪器
仪器名称：X射线粉末衍射仪
仪器型号：D8 ADVANCE
仪器厂家：BRUKER
基于独一无二的D8衍射仪系列平台的D8 ADVANCE，是所有X射线粉末衍射和散射应用的理想之选，如：典型的X射线粉末衍射（XRD）,对分布函数（PDF）分析,小角X射线散射（SAXS）和广角X射线散射（WAXS）
布鲁克独家提供基于NIST标样刚玉（SRM1976）的准直保证。目前，在峰位、强度和分辨率方面，市面上尚无其他粉末衍射仪的精度超过D8 ADVANCE。 该设备可以利用X射线衍射判断粉末晶体样品的晶体类型及微观结构特点，配备变温样品台，可进行低高温样品测量
仪器参数
1) Cu靶，Mo靶
2) TTK600 中低温原位分析附件（-196-600℃）
3) LYNXEYE XE-T（能量分辨率优于 380eV）
4) 全谱范围内所有峰的角度偏差不超过±0.01 度
5) 扫描方式：立式/（Eiger2 R 500K二维阵列探测器）：零维模式（点探测器），一维模式（阵列探测器），二维模式（面探测器）
6) 可读最小步长0.0001度；2θ测量范围-110～168度。
7) 入射三光路系统（聚焦光路，平行光路及高分辨平行光路）
8) 样品台 五轴尤拉环样品台，九位自动进样器，毛细管样品台
